DIS-5200A
8CH非耐G型衝突試験計測装置

  • TEDS

DIS-5200A

概要

ダミー検定、コンポーネント試験等のデータを集録

ひずみゲージ、ひずみゲージ式変換器、ピエゾレジスティブ式変換器、電圧、ポテンショメータ式変換器、その他直流電圧に変換できるセンサ、デジタル信号などを接続して測定ができます。センサからのデータは、増幅、AD変換されて大容量メモリに格納されます。

特長

●1ユニット8チャネル
●大容量フラッシュメモリ搭載(10kHzサンプリングでメモリ時間75秒)
●インタフェースはLAN(イーサネット)100BASE-TXを採用
●ひずみゲージおよび半導体ゲージとその変換器、電圧、デジタル信号の計測が可能
●コントローラはパソコン

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DIS-5200A
8CH非耐G型衝突試験計測装置

DIS-5200A
  • TEDS

全体仕様

使用温湿度範囲 使用温度範囲: 0~50℃
使用湿度範囲: 10~80%以内(結露しないこと)
電源 AC 100~240V
外形寸法 327(W)×44(H)×180(D)mm(突起部含まず)
質量 2kg以下

個別仕様

アナログ入力
入力チャネル数 8
入力コネクタ 3RT01-RW7F
(多治見無線電機社製 適合プラグ 3RT01-PE7M)
入力形式 平衡差動入力
入力抵抗 ブリッジ式センサ測定時:約(10MΩ+10MΩ)
電圧測定時:約(100kΩ+100kΩ)
入力電圧範囲 ±20V
ゲイン ×0.1~0.9(×0.1ステップ)
×1~5000(×1ステップ)
ゲイン精度 ±0.2%FS以内
平衡調整範囲 ゲイン
×0.1~0.9:±10V
× 1~19:±1V
×20~99:±50mV
×100~5000:±10mV
他機能 入力短絡機能搭載(オフセット電圧除去用)
ブリッジ電源
印加方式 チャネル独立(ON/OFFコントロール可)
電源電圧 DC10V/5V/2V/OFF
ブリッジ構成 2ゲージ法/4ゲージ法
ブリッジ抵抗 120Ω~5kΩ
精度 ±0.1%以内
最大電流 30mA以内
ローパスフィルタ
  ※ローパスフィルタは固定フィルタか可変フィルタの何れかを選択可能
固定フィルタ SAE規格 CFC1000準拠
(ISO6487-2002/SAE J211-1-2007)
オーバシュート5%未満
可変フィルタ 伝達特性 : 5次バタワース
カットオフ周波数 : 50Hz~20kHzの範囲で設定可能
(50,100,200,400,1k,2k,4k,10k,20kの9段)
カットオフ点の振幅比 :-3±2dB
減衰特性 :-30dB/oct
AD変換器
分解能 16-bit
サンプリング方式 全チャネル同時
サンプリング周波数 100,200,500,1k,2k,5k,10k,16k,20k,50k,100kHz
S/N比 50dB以上(固定フィルタ設定時)
デジタル入力
入力チャネル数 16
測定対象 無電圧接点
入力形式 絶縁入力
データ集録部
データ集録用メモリ 750kワード/チャネルSRAM
(10kHzサンプリング時,約75秒記録可能)
保持時間 3時間程度
(電源OFF時 スーパーキャパシタによるバックアップ)
データ保存用メモリ 64MB FLASHメモリ
トリガ
外部トリガ 無電圧接点入力 2点(絶縁入力)トリガ1及びトリガ2
レベルトリガ 任意の3チャネルのレベルにより動作
カスケードトリガ ユニット間または従来器のトリガ出力にて動作
ソフトウェアトリガ 外部コンピュータからのコマンドにより動作
上記のイベントを検出し、その前後のデータを集録
同期機能
ケーブル接続 最大接続台数:16台(本器複数台をケーブルで接続)
TEDS機能 IEEE1451.4(Mixed Mode Transducer interace Class2)対応
読み込み(全エリア),書き込み(ユーザーエリアのみ)
インタフェース 100BASE-TX準拠
表示器・ブザー
LED 状態表示用LED
Ready for Trigger
Triggered
Error
Overflow
LED表示器 本器の状態を8文字の英数字で表示
チェック機能 センサチェック/断線チェック/ゲインチェック/ブリッジ電源電圧チェック/メモリチェック
ログ機能 本体操作ログを本体に記録

外形寸法図

DIS-5200A

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