DIS-5210A
8CH非耐G型衝突試験計測装置

  • TEDS

DIS-5210A

概要

ダミー検定、コンポーネント試験のデータを集録

ひずみゲージ、ひずみゲージ式変換器、ピエゾレジスティブ式変換器、電圧、ポテンショメータ式変換器、その他直流電圧に変換できるセンサ、デジタル信号などを接続して測定ができます。センサからのデータは、増幅、A-D変換されて大容量メモリに格納されます。

特長

●1ユニット8チャネル
●大容量フラッシュメモリ搭載(10kHzサンプリングでメモリ時間75秒)
●インタフェースはLAN(イーサネット)100BASE-TXを採用
●ひずみゲージおよび半導体ゲージとその変換器、電圧、デジタル信号の計測が可能
●コントローラはパソコン

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DIS-5210A
8CH非耐G型衝突試験計測装置

DIS-5210A
  • TEDS

仕様

アナログ入力
入力チャネル数 8
入力コネクタ EGG.1B.307(LEMO製 適合プラグFGG.1B.307 plug)
入力形式 平衡差動入力
入力抵抗 ブリッジ式センサ測定時:約(10MΩ+10MΩ)
電圧測定時:約(100kΩ+100kΩ)
入力電圧範囲 ±20V
ゲイン ×0.1~0.9(×0.1ステップ)
×1~5000(×1ステップ)
ゲイン精度 ±0.2%FS以内
平衡調整範囲 ゲイン
×0.1~0.9:±10V
×1~19:±1V
×20~99:±50mV
×100~5000:±10mV
ブリッジ電源
印加方式 チャネル独立(ON/OFFコントロール可)
電源電圧 DC10V/5V/2V/OFF
ブリッジ構成 2ゲージ法/4ゲージ法
ブリッジ抵抗 120Ω~5kΩ
精度 ±0.1%以内
最大電流 30mA以上
フィルタ
固定フィルタ SAE J211-2007規格 CFC1000準拠(ISO6487-2002/SAE J211-1-2007) オーバーシュート5%未満
可変フィルタ 伝達特性 : 5次バタワース
カットオフ周波数 : 50Hz~20kHzの範囲で設定可能
(50,100,200,400,1k,2k,4k,10k,20kの9段)
カットオフ点の振幅比 : -3dB±2dB
減衰特性 : -30dB/oct
A-D変換器
分解能 16-bit
サンプリング サンプリング方式 : 全チャネル同時
サンプリング周波数 : 100,200,500,1k,2k,5k,10k,16k,20k,50k,100kHz
SN比 50dB以上(固定フィルタ設定時)
デジタル入力
入力チャネル数 16
測定対象 無電圧接点
入力形式 絶縁入力
データ集録部
データ集録用メモリ 750kワード/チャネルSRAM(10kHzサンプリング時,約75秒記録可能)
保持時間 3時間程度(電源OFF時 スーパーキャパシタによるバックアップ)
データ保存用メモリ 64MB FLASHメモリ
トリガ 外部トリガ : 無電圧接点入力 2点(絶縁入力)トリガ1及びトリガ2
レベルトリガ : 任意の3チャネルのレベルにより動作
カスケードトリガ : ユニット間または従来器のトリガ出力にて動作
ソフトウェアトリガ : 外部コンピュータからのコマンドにより動作
上記のイベントを検出し、その前後のデータを集録
同期接続
ケーブル接続 最大接続台数:16台(本器複数台をケーブルで接続)
TEDS機能
TEDS機能 IEEE1451.4(Mixed Mode Transducer interface Class2)対応
読み込み(全エリア),書き込み(ユーザエリアのみ)
インタフェース
LANインタフェース 100BASE-TX準拠
表示器・ブザー
LED 状態表示用LED
Ready for Trigger
Triggered
Error
Overflow
LED表示器 本器の状態を8文字の英数字で表示
チェック機能
種類 センサチェック/断線チェック/ゲインチェック/ブリッジ電源電圧チェック/メモリチェック
ログ機能
ログ内容 本体操作ログを本体に記録
環境条件
使用温度範囲 0~+50℃
使用湿度範囲 -10~80%RH(結露しないこと)
電源
電源電圧範囲 AC100~240V(50Hz/60Hz)
外観
外形寸法 327(W)×44(H)×180(D)mm(突起部含まず)
外観
質量 約2kg以下

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