ひずみゲージの結線法

ひずみゲージでブリッジ回路を構成する場合には、測定目的に応じて1、2、4ゲージ法があります。それぞれの結線法を図4、図5、図6に示します。なお、測定目的に応じてひずみゲージの配置、結線法、ブリッジの出力などにより多数ありますので、ひずみゲージブリッジの組み方例(PDF)を参照してください。

1ゲージ法

ブリッジ回路の一辺にひずみゲージが、他の三辺に固定抵抗が接続される回路です。この方式は一般の応力・ひずみ測定に簡便なため広く行われていますが、図4-1の1ゲージ2線式ではリード線の影響を大きく受けるため、温度変化の大きい場合やリード線が長くなる場合には、図4-2の1ゲージ3線式を使用しなければなりません。1ゲージ3線式についてはリード線の温度影響の補償法を参照してください。

2ゲージ法

ブリッジ回路の二辺にひずみゲージが、他の二辺に固定抵抗が接続される回路です。2枚のひずみゲージのうち1枚をアクティブゲージ、他の1枚を温度補償用のダミーゲージとするアクティブ・ダミー法(図5-1)や2枚ともアクティブゲージとする2アクティブ法(図5-2)があります。2アクティブ法は、測定対象以外のひずみ成分の除去などに使われますが、測定目的によって図5-1や図5-2の2通りの接続がとられますので、ひずみゲージブリッジの組み方例(PDF)を参照してください。

4ゲージ法

ブリッジ回路の各辺がすべてひずみゲージで構成される回路です(図6)。この回路は,変換器(センサ)製作時の出力を大きくしたり、温度補償を向上させます。また、測定対象以外のひずみ成分の除去などに使われます。詳細はひずみゲージブリッジの組み方例(PDF)を参照してください。